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        四探針電阻率測試儀,四探針電阻率測試儀設計

        提問時間:2020-04-01 11:09:28
        共1個精選答案
        手機 2020-04-01 11:09:28
        最佳答案

        四探針電阻率測試儀也有很多種,例如高溫的或者常溫的,不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的參數也是不同的。舉例,高溫四探針電阻率測試儀可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻,主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能。HRMS-800高溫四探針電阻率測試儀就是,主要測量的參數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。

        四探針電阻率測試儀配合不同的探頭可以測的材料也不同。配高耐磨的碳化鎢探針探頭,以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率;配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,可測金屬箔、碳紙等導電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率;配專用箔上涂層探頭,也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率。四探針測試儀測硅片電阻率時,N型和P型的硅片都可以測。比如用于做電力元件的硅片是N型的,用于做太陽能電池的硅片是P型的(有的),這些硅片用四探針測試儀都能測。主要是測方塊電阻,可以換算電阻率

        我也想了解呢:tiger05:tjumark(站內聯系TA)四探針測定的是表面電阻,一般用于薄膜方塊電阻的測定;對于后尺寸的塊體試樣和lz的高氣孔率、高電阻試樣,建議采用體積電阻測定儀器,可以用高阻儀或LCR databridge等。四探針測定的是表面電阻,一般用于薄膜方塊電阻的測定;對于后尺寸的塊體試樣和lz的高氣孔率、高電阻試樣,建議采用體積電阻測定儀器,可以用高阻儀或LCR databridge等。另外,測試電極的制備也是很重要的。 可不可以推薦幾個具體的設備,我用四探針法又測了一下自己燒出來的SiC我的是碳化硅的試條,寬高都是12mm,長度現在有二十幾mm,想做一下電阻率的測試,我看實驗室的四點探針儀器是WC的針頭,想測一下電阻率,以前也是這種碳化硅試條,做測試的時候也磨光過一個表面,但是試樣本身氣孔 ... 你這個四探針電阻率測試儀是測表面電阻的吧。這種測試儀測的探針周圍的表面電阻,并且四個探針之間距離為1mm左右,感覺誤差較大。你這個四探針電阻率測試儀是測表面電阻的吧。這種測試儀測的探針周圍的表面電阻,并且四個探針之間距離為1mm左右,感覺誤差較大。

        1-這個小配件是廠家定制的:采用線切割的方法切出,再進行熱處理......等工藝,然后裝配到探頭上......2-廠家也不會出售這個配件,因為擔心用戶不會裝配,同時裝配后還要對探頭計量校準;......建議送回廠家維修。(供參考)

        四探針電阻率測試儀其實從專業角度來說,就是高溫四探針測量系統。該系統包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量軟件。

        三琦高溫四探針測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟件四個組成部分。

        高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境;高溫四探針夾具提供待測試樣品的測試平臺;電阻率測試儀則負責測試參數數據。最后,再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起,形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的高溫電阻率測量系統。

        四探針方塊電阻(又叫薄膜電阻)測試儀是半導體制造中常用的檢測儀器之一,用以測量半導體材料的電阻率和薄膜的方塊電阻,同時達到測量半導體薄層材料的摻雜濃度和薄膜厚度、控制器件和集成電路性能的目的。目前半導體集成電路迅猛發展,帶動相關測試技術發展。隨著集成度的提高,器件尺寸的不斷縮小,晶圓尺寸的增大,要求測試系統的測量精度、穩定性、分析和數據處理的能力不斷提高。半導體電阻率測量應用廣泛,在進口測量設備非常昂貴下,國產四探針方塊電阻、電阻率測試系統市場很好,開發先進的四探針方塊電阻測試系統很有意義。有很多可能會導致這種現象的發生;訪問限制 設置-通用-訪問限制。沒有安裝appsync 如果有的話可以刪除之前下載的,重新下載,不行卸載軟件,重新安裝。有個辦法就是刪掉從新下載重新打開設置—通用

        四探針電阻率測試儀也有很多種,例如高溫的或者常溫的,不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的參數也是不同的。舉例,高溫四探針電阻率測試儀可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃

        三琦高溫四探針夾具是依據電性能測量四探針方法、并針對高溫環境進行設計。由四個獨立的探針調節裝置、高溫高頻探針、調節支撐架、樣品平臺、隔熱層、接線盒組成。探針調節裝置具有三維精確調節功能,精確定位探針的位置;

        探針調節裝置具有粗調功能,有效增大探針的調節范圍;

        探針調節裝置帶探針壓力調節功能,確保探針與樣品的良好接觸,又不損傷樣品;

        探針采用帶同軸屏蔽層設計,減少電磁對測量的干擾;

        探針電極選用鉑銥合金,有效減少接觸電阻,并具有良好的高溫抗氧化能力;

        概述在電力系統中,大型地網的接地電阻的測試目前主要采用工頻大電流三極法測量。為了防止電網運行時產生的工頻干擾,提高測量結果的準確性,絕緣預防性試驗規程規定:工頻大電流法的試驗電流不得小于30安培。

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